六通道伏安特性試驗(yàn)儀市場(chǎng)推廣性1.設(shè)計(jì)用途

設(shè)計(jì)用于對(duì)保護(hù)類(lèi)、計(jì)量類(lèi)CT/PT進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，適用于實(shí)驗(yàn)室也適用于現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。

2.參考標(biāo)準(zhǔn)

GB 1207-2006、GB 1208-2006

六通道伏安特性試驗(yàn)儀市場(chǎng)推廣性3.主要特征

• 支持檢測(cè)CT和PT。

• *大電流1000A5V，無(wú)需外接其它輔助設(shè)備，即可完成所有檢測(cè)項(xiàng)目。

• 自帶微型快速打印機(jī)、可直接現(xiàn)場(chǎng)打印測(cè)試結(jié)果。

• *大電壓3000V，*大功率可達(dá)6KVA。

• CT變比二次側(cè)同時(shí)測(cè)試6組。

• 按規(guī)程自動(dòng)給出CT/PT（勵(lì)磁）拐點(diǎn)值。

• 自動(dòng)給出5%和10%誤差曲線。

• 可測(cè)試變壓器套管CT和GIS內(nèi)CT。

• 可保存1000組測(cè)試資料，掉電后不丟失。

• 支持U盤(pán)轉(zhuǎn)存資料，可以通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)的PC進(jìn)行讀取，并生成WORD報(bào)告。

• 小巧輕便≤35Kg，非常利于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。

• 開(kāi)機(jī)自檢，電流、電壓多重保護(hù)。

六通道伏安特性試驗(yàn)儀市場(chǎng)推廣性4．主要測(cè)試功能：（見(jiàn)下表）

六通道伏安特性試驗(yàn)儀市場(chǎng)推廣性5. 主要技術(shù)參數(shù)： （見(jiàn)下表）

5.1．工作條件要求

輸入電壓 220Vac±10%，2、額定頻率 50Hz；

測(cè)試儀應(yīng)該由帶有保護(hù)接地的電源插座供電。如果保護(hù)地的連接有問(wèn)題，或者電源沒(méi)有對(duì)地的隔離連接，仍然可以使用測(cè)試儀，但是我們不保證安全；

參數(shù)對(duì)應(yīng)的環(huán)境溫度是23℃±5℃；

保證值在出廠校驗(yàn)后一年內(nèi)有效。

六通道伏安特性試驗(yàn)儀市場(chǎng)推廣性6. 產(chǎn)品硬件結(jié)構(gòu)

1．面板結(jié)構(gòu): （圖1）

2．面板注釋?zhuān)?/span>

1 —— 設(shè)備接地端子

2 —— U盤(pán)轉(zhuǎn)存接口

3 —— 打印機(jī)

4 —— 液晶顯示器

5 —— 控制器

6 ——功率開(kāi)關(guān)

7 —— 電流法CT變比/極性試驗(yàn)時(shí)，大電流輸出端口

8 —— 電流法CT變比/極性試驗(yàn)時(shí)，二次側(cè)接入端口，共6組

9 —— CT變比電壓法測(cè)試輸入端口，接CT一次。

10 ——CT/PT伏安特性試驗(yàn)時(shí)電壓輸出端口；CT/PT負(fù)荷試驗(yàn)端口；PT變比/極性時(shí)，一次側(cè)接入端口；CT變比電壓法測(cè)試輸出端口，接CT二次。

11 ——PT變比/極性時(shí)，二次側(cè)接入端口

12 ——擴(kuò)展端子（選配）

13 ——主機(jī)開(kāi)關(guān)

14 ——主機(jī)電源插座

七.操作方式及主界面介紹

7.1、控制器使用方法

控制器有三種操作狀態(tài)：“左轉(zhuǎn)”，“右旋”，“按下”。使用控制器的這三種操作可以方便的用來(lái)移動(dòng)光標(biāo)、輸入數(shù)據(jù)和選定項(xiàng)目等。

7.2、主菜單 （見(jiàn)圖2）

開(kāi)機(jī)之后默認(rèn)進(jìn)入CT測(cè)試，CT測(cè)試主菜單共有“勵(lì)磁”、“負(fù)荷”、“直阻”、“變比極性”、“交流耐壓”、“一次通流” 、“數(shù)據(jù)查詢(xún)”、“PT”8種選項(xiàng)，可以使用旋轉(zhuǎn)控制器進(jìn)行選擇和設(shè)置。如圖2所示，當(dāng)“類(lèi)型”后面為帶有灰色背景的 CT 時(shí)，表示當(dāng)前為CT測(cè)試。旋轉(zhuǎn)光標(biāo)到“PT”并按下，則進(jìn)入PT測(cè)試界面，如圖3。

PT測(cè)試主菜單共有“勵(lì)磁”、“負(fù)荷”、“直阻”、“變比極性”、“交流耐壓”、“數(shù)據(jù)查詢(xún)” 、“CT”7種選項(xiàng)，可以使用旋轉(zhuǎn)控制器進(jìn)行選擇和設(shè)置。如圖3所示，當(dāng)“類(lèi)型”后面為帶有灰色背景的 PT 時(shí)表示當(dāng)前為PT測(cè)試。旋轉(zhuǎn)光標(biāo)到“CT”并按下，則進(jìn)入CT測(cè)試界面，如圖2。

八.CT測(cè)試

進(jìn)行電流互感器測(cè)試時(shí)，請(qǐng)移動(dòng)光標(biāo)至CT，并選擇相應(yīng)測(cè)試選項(xiàng)。

CT勵(lì)磁（伏安）特性測(cè)試

在CT主界面中，選擇“勵(lì)磁” 選項(xiàng)后，即進(jìn)入測(cè)試界面如圖4。

（1）、參數(shù)設(shè)置：

勵(lì)磁電流：設(shè)置范圍（0—20A）為儀器輸出的*高設(shè)置電流，如果實(shí)驗(yàn)中電流達(dá)到設(shè)定值，將會(huì)自動(dòng)停止升流，以免損壞設(shè)備。通常電流設(shè)置值大于等于1A，就可以測(cè)試到拐點(diǎn)值。

勵(lì)磁電壓：設(shè)置范圍（0—3000V）為儀器輸出的*高設(shè)置電壓，通常電壓設(shè)置值稍大于拐點(diǎn)電壓，這樣可以使曲線顯示的比例更加協(xié)調(diào)，電壓設(shè)置過(guò)高，曲線貼近Y軸，電壓設(shè)置過(guò)低，曲線貼近X軸。如果實(shí)驗(yàn)中電壓達(dá)到設(shè)定值，將會(huì)自動(dòng)停止升壓，以免損壞設(shè)備。

（2）、試驗(yàn)：

接線圖見(jiàn)（圖5），測(cè)試儀的K1、K2為電壓輸出端，試驗(yàn)時(shí)將K1、K2分別接互感器的S1、S2（互感器的所有端子的連線都應(yīng)斷開(kāi)）。檢查接線無(wú)誤后，合上功率開(kāi)關(guān)，選擇“開(kāi)始”選項(xiàng)，即開(kāi)始測(cè)試。               

試驗(yàn)時(shí)，光標(biāo)在“停止”選項(xiàng)上，并不停閃爍，測(cè)試儀開(kāi)始自動(dòng)升壓、升流，當(dāng)測(cè)試儀檢測(cè)完畢后，試驗(yàn)結(jié)束并描繪出伏安特性曲線圖（如圖6）。

注意：圖4中“校準(zhǔn)”功能：主要用于查看設(shè)備輸出電壓電流值，不用于互感器功能測(cè)試，詳情見(jiàn)附錄一。  

2）、伏安特性（勵(lì)磁）測(cè)試結(jié)果操作說(shuō)明

試驗(yàn)結(jié)束后，屏幕顯示出伏安特性測(cè)試曲線（見(jiàn)圖6）。該界面上各操作功能如下：

打    ?。嚎刂破鬟x擇“打印”后，先后打印伏安特性（勵(lì)磁）曲線、數(shù)據(jù)，方便用戶(hù)做報(bào)告用。同時(shí)減少更換打印紙的頻率，節(jié)省時(shí)間，提率。

勵(lì)磁數(shù)據(jù)：將光標(biāo)移動(dòng)至“勵(lì)磁數(shù)據(jù)”選項(xiàng)選定，屏幕上將顯示伏安特性試驗(yàn)的測(cè)試數(shù)據(jù)列表（見(jiàn)圖7）。按下“退出”鍵即退回到伏安特性試驗(yàn)曲線界面，控制器即可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的上下翻。當(dāng)頁(yè)面翻轉(zhuǎn)不動(dòng)時(shí)，則已到達(dá)*后一頁(yè)。

保    存：控制器移動(dòng)至“保存”選項(xiàng)，按下即可將當(dāng)前所測(cè)數(shù)據(jù)保存，保存成功后，屏幕上顯示“保存完畢”。成功保存后，用戶(hù)如果再按下“保存”鍵，程序會(huì)自動(dòng)分辨，不保存相同的測(cè)試記錄。并且可在數(shù)據(jù)查詢(xún)菜單中進(jìn)行查看。

誤差曲線：在圖6的界面中，將光標(biāo)移至“誤差曲線”選定后，屏上將顯示伏安特性試驗(yàn)的誤差曲線的設(shè)置（見(jiàn)圖8）。選定后計(jì)算出的誤差曲線如圖9。

打印設(shè)定：光標(biāo)移動(dòng)至此選項(xiàng)，按下即進(jìn)入打印設(shè)置界面（圖10），可根據(jù)要求選擇“默認(rèn)”（程序按照一定步進(jìn)打印大量電壓電流值），或選擇“自設(shè)定”（程序會(huì)按照表格中的10個(gè)電流值進(jìn)行打?。?。

以下四項(xiàng)為誤差曲線計(jì)算時(shí)的設(shè)置項(xiàng)：

負(fù)荷 ：CT二次側(cè)額定負(fù)荷。  

二次 ：CT的二次側(cè)額定電流

ALF ：準(zhǔn)確限值系數(shù)，如：被測(cè)CT銘牌為“5P10”，“10”即為限制系數(shù)。

5% ：自動(dòng)計(jì)算出5%誤差曲線數(shù)據(jù)并顯示誤差曲線。

10% ：自動(dòng)計(jì)算出10%誤差曲線數(shù)據(jù)并顯示誤差曲線。

誤差曲線界面中有三個(gè)選項(xiàng)：

打印 ：可打印出誤差曲線圖及數(shù)據(jù)；

數(shù)據(jù) ：可顯示出誤差曲線相關(guān)數(shù)據(jù)，查看方式同伏安特性數(shù)據(jù)。

退出 ：可返回上一層菜單。

3、CT變比極性試驗(yàn)

（安裝在變壓器或者開(kāi)關(guān)裝置內(nèi)部的套管CT，建議使用電壓法）

在CT主界面中，選擇“變比極性”后，出現(xiàn)“電流”和“電壓”選項(xiàng)（圖12），選擇電流即用電流法測(cè)試，選擇“電壓”即用電壓法測(cè)試。

3.1、電流法變比極性測(cè)試

1）參數(shù)設(shè)置：

在CT“變比極性”界面中，選擇“電流”或“電壓”后，進(jìn)入測(cè)試界面見(jiàn)圖13，設(shè)置一次電流： 0 ～1000A，測(cè)試儀P1、P2端子輸出的*大電流；

二次側(cè)額定電流： 1A或。

2）試驗(yàn)：  

接線圖見(jiàn)圖14，CT一次側(cè)接P1、P2，CT二次側(cè)接對(duì)應(yīng)的1S1、1S2-6S1、6S2，不檢測(cè)的二次繞組要短接，設(shè)置二次側(cè)額定電流及編號(hào)后，合上功率開(kāi)關(guān)，選擇“開(kāi)始”選項(xiàng)，按下控制器，試驗(yàn)即開(kāi)始。

試驗(yàn)過(guò)程中光標(biāo)在“開(kāi)始”選項(xiàng)上不停閃爍，直至試驗(yàn)完畢退出自動(dòng)測(cè)試界面，或按下控制器人為中止試驗(yàn)，裝置測(cè)試完畢后會(huì)自動(dòng)停止試驗(yàn)，試驗(yàn)完成后，即顯示變比極性測(cè)試結(jié)果?？梢赃x擇 “保存” 、“打印”及“退出”選項(xiàng)進(jìn)行下一步操作。

儀器本身的同色端子為同相端，即P1接CT的P1，S1接CT的S1時(shí)，極性的測(cè)試結(jié)果為減極性。

3.2、電壓法變比極性測(cè)試

1）參數(shù)設(shè)置：

在CT“變比極性”界面中，選擇“電壓”后，進(jìn)入界面，只需設(shè)置二次電流：1A或（參考圖13）。

2）測(cè)試：

參照?qǐng)D15進(jìn)行接線，被測(cè)CT一次側(cè)接測(cè)試儀小端子L1、L2，CT二次側(cè)接K1、K2，設(shè)置二次側(cè)額定電流及編號(hào)后，合上功率開(kāi)關(guān)，選擇“開(kāi)始”選項(xiàng)，按下控制器，測(cè)試即開(kāi)始。

測(cè)試過(guò)程中光標(biāo)在“開(kāi)始”選項(xiàng)上不停閃爍，直至測(cè)試完畢退出自動(dòng)測(cè)試界面，或按下控制器人為中止測(cè)試，裝置測(cè)試完畢后會(huì)自動(dòng)停止測(cè)試，測(cè)試完成后，即顯示變比極性測(cè)試結(jié)果。可以選擇 “保存” 、“打印”及“返回”選項(xiàng)進(jìn)行下一步操作。

儀器本身的同色端子為同相端，即L1接CT的P1，S1接CT的K1時(shí)，極性的測(cè)試結(jié)果為減極性。

5、CT一次通流試驗(yàn)   

1）參數(shù)設(shè)置：

在CT主界面中，選擇“一次通流”后，進(jìn)入測(cè)試界面（圖18），設(shè)置好設(shè)定電流值：0～600A。

2）試驗(yàn)：

接線圖見(jiàn)圖19，CT一次側(cè)接P1、P2，CT二次側(cè)接二次負(fù)載。設(shè)置好通流電流后，合上功率開(kāi)關(guān)，旋轉(zhuǎn)控制器將光標(biāo)移動(dòng)至“開(kāi)始”選項(xiàng)，按下控制器，試驗(yàn)即開(kāi)始，電流保持時(shí)間以進(jìn)度條顯示(0～200A:保持10分鐘；大于200A～300A：保持2分鐘;大于300A：保持3秒鐘)。

6、CT交流耐壓試驗(yàn)

1）參數(shù)設(shè)置：

在CT主界面中，選擇“交流耐壓”后，進(jìn)入測(cè)試界面（圖20），

設(shè)置好設(shè)定電壓值：0～3000V。

2）實(shí)驗(yàn)：

接線圖見(jiàn)圖21，被測(cè)CT二次側(cè)短接與測(cè)試儀電壓輸出口K2連接，電壓輸出口另一端K1連接互感器外殼。檢查接線完成后，合上功率開(kāi)關(guān)，選擇 “開(kāi)始”選項(xiàng)，按下即開(kāi)始升壓，電壓保持時(shí)間默認(rèn)為1分鐘，測(cè)試過(guò)程中，儀器內(nèi)部對(duì)互感器二次繞組與外殼之間的漏電流實(shí)時(shí)檢測(cè)，如果發(fā)現(xiàn)電流迅速增加，將會(huì)自動(dòng)回零，頁(yè)面會(huì)顯示“不合格”。

7、CT負(fù)荷試驗(yàn)

參數(shù)設(shè)置：

在CT測(cè)試主界面中，選擇進(jìn)入“負(fù)荷”試驗(yàn)界面（如圖22），設(shè)置二次側(cè)額定電流： 1A或。

電阻：只在測(cè)試負(fù)載箱時(shí)使用（按照負(fù)載箱銘牌設(shè)定）

試驗(yàn)：測(cè)試儀的K1、K2為電壓輸出端，參照?qǐng)D23進(jìn)行接線，將被測(cè)負(fù)荷（負(fù)載）接測(cè)試儀的K1、K2端，檢查接線無(wú)誤后，選擇“開(kāi)始”即開(kāi)始試驗(yàn)，試驗(yàn)完成后，即顯示負(fù)荷性測(cè)試結(jié)果，可以選擇 “保存” 、“打印”及“退出”選項(xiàng)進(jìn)行下一步操作。

8、直阻測(cè)試：                  

1）、校零：

在CT測(cè)試主界面中，選擇進(jìn)入“直阻”試驗(yàn)界面（如圖24），試驗(yàn)前應(yīng)先對(duì)測(cè)試用導(dǎo)線進(jìn)行校零，在CT主界面顯示菜單上通過(guò)控制器選中 直阻測(cè)試項(xiàng)，進(jìn)入直阻測(cè)試界面并選擇“校零”, 校零前將測(cè)試導(dǎo)線的線夾對(duì)接（測(cè)試線短接）（圖25），然后進(jìn)行校零，校零完成后，界面提示“校零完畢”。

2）、試驗(yàn)：

校零結(jié)束后，參照?qǐng)D26接好測(cè)試線，測(cè)試儀的D1、D2接被測(cè)繞組，選中 “開(kāi)始” 鍵即開(kāi)始測(cè)試，試驗(yàn)完成后，即顯示直阻測(cè)試結(jié)果，可以選擇 “保存” 、“打印”及“退出”選項(xiàng)進(jìn)行下一步操作。

9.PT測(cè)試

進(jìn)行電壓互感器功能測(cè)試時(shí)，請(qǐng)移動(dòng)光標(biāo)至PT，并選擇相應(yīng)測(cè)試選項(xiàng)。

1、PT勵(lì)磁特性測(cè)試

1)、參數(shù)設(shè)置

在PT測(cè)試主界面中，選擇進(jìn)入“勵(lì)磁”試驗(yàn)界面（如圖27），

勵(lì)磁電流（0～20A）：輸出電流為儀器輸出的*高設(shè)置電流，如果試驗(yàn)中電流達(dá)到設(shè)定值，將會(huì)自動(dòng)停止升流。通常1A即可測(cè)試出拐點(diǎn)值。

勵(lì)磁電壓：100V、100/√3、100/3、150V、220V、350V。

2）、試驗(yàn)：

參照?qǐng)D28接線，測(cè)試儀的為電壓輸出端，試驗(yàn)時(shí)將K1、K2分別接互感器的a、x ，電壓互感器的一次繞組的零位端接地。檢查接線無(wú)誤后，合上功率開(kāi)關(guān)，選項(xiàng)“開(kāi)始” 選項(xiàng)后，即開(kāi)始測(cè)試。               

試驗(yàn)時(shí)，光標(biāo)在“開(kāi)始”選項(xiàng)上，并不停閃爍，測(cè)試儀開(kāi)始自動(dòng)升壓、升流，當(dāng)測(cè)試儀檢測(cè)完畢后，試驗(yàn)結(jié)束并描繪出伏安特性曲線圖。

3）、PT（勵(lì)磁）測(cè)試結(jié)果操作說(shuō)明

請(qǐng)參考8頁(yè)CT測(cè)試結(jié)果說(shuō)明

3、PT變比極性試驗(yàn)

1）參數(shù)設(shè)置：測(cè)試界面見(jiàn)圖30。

一次：0～3000V。

二次：100V、100/√3、100/3、150V、220V。

2）開(kāi)始試驗(yàn)：

參照?qǐng)D31進(jìn)行接線，PT一次側(cè)接A、X，PT二次側(cè)接a、x。設(shè)置二次側(cè)額定電壓及編號(hào)后，合上功率開(kāi)關(guān)，選擇 “開(kāi)始”選項(xiàng)，按下控制器，試驗(yàn)即開(kāi)始。

試驗(yàn)過(guò)程中光標(biāo)在“開(kāi)始”選項(xiàng)上不停閃爍，直至試驗(yàn)完畢退出測(cè)試界面，或按下控制器人為中止試驗(yàn)，試驗(yàn)完成后，即顯示變比極性測(cè)試結(jié)果?？梢赃x擇 “保存” 、“打印”及“退出”選項(xiàng)進(jìn)行下一步操作。

儀器本身的同色端子為同相端，即A接PT的A，X接PT的X時(shí)，極性的測(cè)試結(jié)果為減極性。

5、PT交流耐壓試驗(yàn)

1）、參數(shù)設(shè)置：

在PT測(cè)試主界面中，選擇進(jìn)入“交流耐壓”試驗(yàn)界面（如圖34），設(shè)置好設(shè)定電壓值：0～3000V。

2）、實(shí)驗(yàn)：

參照?qǐng)D35接線，被測(cè)PT二次側(cè)短接與測(cè)試儀電壓輸出口K2連接，電壓輸出口另一端K1連接互感器外殼。檢查接線完成后，合上功率開(kāi)關(guān)，選擇 “開(kāi)始”選項(xiàng)，按下即開(kāi)始升壓，電壓保持時(shí)間默認(rèn)為1分鐘，測(cè)試過(guò)程中，儀器內(nèi)部對(duì)互感器二次繞組與外殼之間的漏電流實(shí)時(shí)檢測(cè)，如果發(fā)現(xiàn)電流迅速增加，將會(huì)自動(dòng)回零，頁(yè)面會(huì)顯示測(cè)試不合格。

6、PT負(fù)荷試驗(yàn)

1）、參數(shù)設(shè)置：

在PT測(cè)試主界面中，選擇進(jìn)入“負(fù)荷”試驗(yàn)界面（如圖36），設(shè)置二次電壓值：100V、100/√3、100/3、150V、220V。

2）、試驗(yàn)：

測(cè)試儀的K1、K2為電壓輸出端，參照?qǐng)D37進(jìn)行接線，將被測(cè)負(fù)荷（負(fù)載）接測(cè)試儀的K1、K2端，檢查接線無(wú)誤后，合上功率開(kāi)關(guān)，選擇“開(kāi)始”即開(kāi)始試驗(yàn)，試驗(yàn)完成后，即顯示負(fù)荷性測(cè)試結(jié)果，可以選擇 “保存” 、“打印”及“退出”選項(xiàng)進(jìn)行下一步操作。

7、直阻測(cè)試：                  

請(qǐng)參照第14頁(yè)CT直阻測(cè)試。

十.數(shù)據(jù)查詢(xún)

在CT/PT測(cè)試主界面中，選擇進(jìn)入“數(shù)據(jù)查詢(xún)”試驗(yàn)界面（如圖38），根據(jù)需要選擇“勵(lì)磁”、“負(fù)荷”、“直阻”、“變比極性”、“角差比差”、“退出”等測(cè)試選項(xiàng)，選定測(cè)試項(xiàng)目后，進(jìn)入圖39界面，顯示儀器中該項(xiàng)目下所保存的*新的測(cè)試結(jié)果，可以選擇 “上頁(yè)” 、“下頁(yè)”、“轉(zhuǎn)存”、“退出”、“清理”選項(xiàng)進(jìn)行相應(yīng)操作。

轉(zhuǎn)存時(shí)，插上U盤(pán)至測(cè)試儀通訊口“USB”，在圖39中，點(diǎn)擊“轉(zhuǎn)存”則會(huì)將當(dāng)前頁(yè)面下所顯示的測(cè)試記錄轉(zhuǎn)存進(jìn)入U(xiǎn)盤(pán)之中。每條記錄所用時(shí)間約2秒鐘，轉(zhuǎn)存結(jié)束后，界面提示“轉(zhuǎn)存完畢”。

十一.PC 機(jī)操作軟件使用說(shuō)明

解壓“軟件”至C盤(pán)根目錄。

11.2首先，安裝“wic_x86_chs.exe”文件，其次，安裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件，默認(rèn)安裝地址即可。

11.3安裝完畢后，打開(kāi)“伏安特性”文件夾，選擇打開(kāi)“VATeXing.exe”操作軟件，如圖40即為上位機(jī)操作軟件。

11.4在“VATeXing.exe”操作軟件中，下方選擇互感器種類(lèi)“CT”或“PT”，應(yīng)用語(yǔ)言“中文”或“英文”。

11.5如需生成報(bào)告格式文件，必須載入試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)，具體操作方法如下：

a）、將存儲(chǔ)試驗(yàn)數(shù)據(jù)的U盤(pán)連接至計(jì)算機(jī)。

b）、在圖40中選擇打開(kāi)“選擇文件”，出現(xiàn)圖41操作窗口，在圖41中可根據(jù)需要載入所需文件。

c）、試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)說(shuō)明：以“A”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為勵(lì)磁特性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“B”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為變比極性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“C”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為負(fù)荷結(jié)果數(shù)據(jù)，以“D”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為直阻結(jié)果數(shù)據(jù)。以“E”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為角差比差結(jié)果數(shù)據(jù)，以“T”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為暫態(tài)結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.6 載入數(shù)據(jù)結(jié)束后，選擇“確定”出現(xiàn)圖42界面，在此界面右上方設(shè)置相應(yīng)參數(shù)后，選擇“生成誤差曲線”則完成所有試驗(yàn)結(jié)果的載入。

11.7 載入全部完成后，可根據(jù)需要選擇“保存”或打印結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.8  選擇“保存”選項(xiàng)，則以WORD的形式顯示結(jié)果如圖43。

11.9  如需繼續(xù)加載試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)，請(qǐng)先清理上次載入的數(shù)據(jù)。

附  錄

附錄一、 “校準(zhǔn)”測(cè)試方法（以CT為例）

1）參數(shù)設(shè)置：

進(jìn)入CT“勵(lì)磁”測(cè)試界面后，選擇進(jìn)入“校準(zhǔn)”試驗(yàn)界面（如圖44），設(shè)定好勵(lì)磁電流值：0.1A ～ ;勵(lì)磁電壓值：1V～3000V。

2）開(kāi)始：

電壓校準(zhǔn)試驗(yàn)參照?qǐng)D45進(jìn)行接線；設(shè)置好被測(cè)電壓后，合上功率開(kāi)關(guān)，選擇 “開(kāi)始”選項(xiàng)，按下控制器，試驗(yàn)即開(kāi)始，試驗(yàn)到達(dá)設(shè)定值后將保持輸出電壓/電流值用于檢測(cè)，檢測(cè)完畢后，按下控制器，試驗(yàn)返回圖44界面。

電流校準(zhǔn)試驗(yàn)參照?qǐng)D46進(jìn)行接線，電壓設(shè)定值略高于【電流設(shè)定值（A）*負(fù)載（Ω）】，設(shè)置好被測(cè)電流/電壓值后，合上功率開(kāi)關(guān)，選擇 “開(kāi)始”選項(xiàng)，按下控制器，試驗(yàn)即開(kāi)始，試驗(yàn)到達(dá)設(shè)定值后將保持輸出電流/電壓值用于檢測(cè)，檢測(cè)完畢后，按下控制器，試驗(yàn)返回圖44界面。

附錄二、售后服務(wù)承諾 ，本產(chǎn)品保修一年，終身維護(hù)。

附錄三、誤差曲線說(shuō)明                          

根據(jù)互感器二次側(cè)的勵(lì)磁電流和電壓計(jì)算出的電流倍數(shù)（M）與允許二次負(fù)荷（ZII）之間的5%、10%誤差曲線的數(shù)據(jù)中也可判斷互感器保護(hù)繞組是否合格：

1）在接近理論電流倍數(shù)下所測(cè)量的實(shí)際負(fù)荷大于互感器銘牌上理論負(fù)荷值，說(shuō)明該互感器合格如圖45數(shù)據(jù)說(shuō)明；

2）在接近理論負(fù)荷下所測(cè)量的實(shí)際電流倍數(shù)大于互感器銘牌上的理論電流倍數(shù),也說(shuō)明該互感器合格如圖45數(shù)據(jù)說(shuō)明；

保護(hù)用電流互感器二次負(fù)荷應(yīng)滿(mǎn)足5%誤差曲線的要求，只要電流互感器二次實(shí)際負(fù)荷小于5%誤差曲線允許的負(fù)荷，在額定電流倍數(shù)下，合格的電流互感器的測(cè)量誤差即在5%以?xún)?nèi)。二次負(fù)荷越大，電流互感器鐵心就越容易飽和，所允許的電流倍數(shù)就越小。因此，5%誤差曲線即n/ZL曲線為圖9所示曲線。在圖45中例所示（所測(cè)保護(hù)用CT為5P10 20VA）：其中5為準(zhǔn)確級(jí)（誤差極限為5％），P為互感器形式（保護(hù)級(jí)），10為準(zhǔn)確限值系數(shù)（10倍的額定電流），20VA表示二次負(fù)荷（容量）。電流倍數(shù)為10.27倍（接近10倍）時(shí)，所允許的二次負(fù)荷為27.19Ω,大于該CT的額定負(fù)荷20VA(20VA/1=20Ω),通過(guò)該數(shù)據(jù)可判斷該互感器合格。另外，在二次負(fù)荷為19.58Ω(接近20Ω) 所允許的二次負(fù)荷為27.19Ω,大于該CT的額定負(fù)荷20VA(20VA/1=20Ω),通過(guò)該數(shù)據(jù)可判斷該互感器合格。另外，在二次負(fù)荷為19.58Ω(接近20Ω)時(shí)，所允許的電流倍數(shù)為12.85倍，大于該CT的額定電流倍數(shù)（10倍），通過(guò)該數(shù)據(jù)也可判斷該互感器合格。其實(shí)，只要找出這兩個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)中的任意一個(gè)，即可判斷所測(cè)互感器是否合格。

如果10％誤差不符合要求一般的做法有：

增大二次電纜界面積（減少二次阻抗）

串接同型同變比電流互感器（減少互感器勵(lì)磁電流）

改用伏安特性較高的繞組（勵(lì)磁阻抗增大）

提高電流互感器變比（增大勵(lì)磁阻抗）

誤差曲線計(jì)算公式：

M =（I*P）/N                   ZII =（U-（I*Z2））/(K*I)

I 電流                          U 電壓

N=1  (1A額定電流)              I 電流

N=5  (額定電流)              Z2 CT二次側(cè)阻抗

P=20 （5％誤差曲線 ）           K=19（5％誤差曲線.1A 額定電流）

P=10 （10％誤差曲線 ）          K=9 （10％誤差曲線.1A 額定電流）

附錄四、時(shí)間設(shè)置說(shuō)明

開(kāi)機(jī)前先按下旋轉(zhuǎn)控制器不要松開(kāi)，打開(kāi)電源，當(dāng)進(jìn)度條進(jìn)完后停3秒之后，松開(kāi)旋轉(zhuǎn)控制器，此時(shí)可看到如圖48的界面，此時(shí)旋轉(zhuǎn)“控制器”把前兩個(gè)99設(shè)置為01，按下“控制器”。光標(biāo)移動(dòng)到后兩位的99，再次旋轉(zhuǎn)“控制器”，把后兩位也設(shè)置為01，按下“控制器”。此時(shí)可進(jìn)入到界面49，在此界面中可設(shè)置時(shí)間，設(shè)置方式是先按下控制器，再旋轉(zhuǎn)設(shè)置數(shù)字，設(shè)置完畢后再次按下控制器表示確認(rèn)，光標(biāo)會(huì)進(jìn)入到下個(gè)選項(xiàng)。

附錄五、智能提示說(shuō)明  

在做各種測(cè)試時(shí)，新上手的用戶(hù)可能會(huì)對(duì)接線及操作不熟練，導(dǎo)致實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)出現(xiàn)錯(cuò)誤的結(jié)果。在這種情況下，會(huì)讓您無(wú)所適從，基于此我們加上了一些簡(jiǎn)單的智能提示，使新用戶(hù)更易上手，使老用戶(hù)減少誤操作。

如圖50到圖53，舉例說(shuō)明了伏安特性與變比極性測(cè)試時(shí)易出現(xiàn)的一些問(wèn)題。

伏安特性測(cè)試時(shí)空開(kāi)（功率開(kāi)關(guān)）忘記打開(kāi)的提示。

伏安特性測(cè)試時(shí)接線錯(cuò)誤的提示。（CT的二次繞組應(yīng)接在K1/K2,有時(shí)用戶(hù)會(huì)誤接在S1/S2）。

變比極性測(cè)試時(shí)空開(kāi)忘記打開(kāi)或者一次電流線沒(méi)有接上。

變比極性測(cè)試時(shí)CT二次的接線沒(méi)有接對(duì)。

早在1785年，英國(guó)天文學(xué)家赫歇爾通過(guò)恒星記數(shù)的方法，一次提出銀河系是一個(gè)由億萬(wàn)顆恒星組成的扁平系統(tǒng)。但長(zhǎng)期以來(lái)，這個(gè)扁平的恒星系統(tǒng)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)一直沒(méi)有人弄清楚。

　　鄭興武解釋?zhuān)且驗(yàn)殂y河系太大了，現(xiàn)代研究表明它的直徑約為10萬(wàn)至18萬(wàn)光年，太陽(yáng)系離銀河系中心很遠(yuǎn)，且位置接近銀道中心面，因此我們所看到的旋臂都重疊投影在天球上而無(wú)法分辨，同時(shí)我們又無(wú)法離開(kāi)銀河系，到幾百萬(wàn)光年以外的宇宙空間來(lái)回眸銀河系，恰如“不識(shí)廬山真面目，只緣身在此山中”。

　　天文學(xué)家也發(fā)現(xiàn)，如果能地測(cè)定旋臂上足夠多的天體到太陽(yáng)的相對(duì)距離，即便身在銀河系內(nèi)部，也*能從內(nèi)到外勾畫(huà)出銀河系的旋臂結(jié)構(gòu)。于是，尋找能有效勾畫(huà)出銀河系結(jié)構(gòu)的示蹤天體或者信標(biāo)，又能測(cè)量它們距離，成為天文學(xué)家破解這個(gè)難題的途徑。

　　然而，在銀盤(pán)上分布著濃密的塵埃氣體，對(duì)銀河系旋臂上天體的光學(xué)輻射產(chǎn)生非常嚴(yán)重的遮擋。當(dāng)人們到無(wú)光污染的大草原仰望天空，用肉眼就可以發(fā)現(xiàn)銀河中心有一個(gè)暗帶，即便使用大光學(xué)望遠(yuǎn)鏡也只能看清太陽(yáng)系周?chē)奶祗w，遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于銀河系的大小。這是光學(xué)天文無(wú)法*探索銀河系結(jié)構(gòu)的原因。

　　真正廣泛深入地觀測(cè)和研究銀河系的結(jié)構(gòu)得益于20世紀(jì)50年代射電和紅外天文學(xué)的興起。射電和紅外輻射能穿透銀道面上濃密的塵埃，使我們看到銀河系邊緣的天體。經(jīng)過(guò)近半個(gè)世紀(jì)的觀測(cè)和研究，天文學(xué)家普遍認(rèn)為銀河系是一個(gè)棒旋星系。

　　不過(guò)，由于離我們近銀河系旋臂的距離大約為6000光年，直接測(cè)量這些射電和紅外源的距離非常困難，天文學(xué)家往往借助于一些天體物理模型，間接測(cè)量它們的距離。近代天文學(xué)研究表明，這些間接測(cè)量的方法有很多問(wèn)題。這也導(dǎo)致了銀河系結(jié)構(gòu)的一些基本的問(wèn)題仍然沒(méi)有得到解決。